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| 高低溫試驗箱GB/T2423.1-2008標準概述 |
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| 時間：2011/9/29 |
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高低溫試驗箱GB/T2423.1-2008《電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫》標準概述：
GB/T2423.1-2008適用于非散熱和散熱兩類試驗樣品。GB/T2423.1-2008對于非散熱試驗樣品，試驗Aa和Ab不違背早期發(fā)行的標準。GB/T2423.2-2008對于非散熱試驗樣品，試驗Ba和Bb不違背早期發(fā)行的標準。
GB/T2423.1-2008僅限于用來考核或確定電工、電子產品（包括元件、設備及其他產品）在低溫環(huán)境條件下貯存和（或）使用的適應性。不能用來評價試驗樣品對溫度變化的耐抗性和在溫度變化期間的工作能力，在這種情況下，應當采用試驗N：溫度變化試驗方法。
非散熱試驗樣品低溫試驗：-----試驗Aa：溫度突變
-----試驗Ab：溫度漸變
散熱試驗樣品低溫試驗： -----試驗Ad：溫度漸變
高低溫試驗箱GB/T2423.1-2008通常用于條件試驗期間能達到溫度穩(wěn)定的試驗樣品。試驗持續(xù)時間是從試驗樣品溫度達到穩(wěn)定時開始計算的。在特殊情況下，如果條件試驗期間試驗樣品達不到溫度穩(wěn)定，剛試驗持續(xù)時間從試驗箱達到規(guī)定試驗溫度時開始計算。
相關規(guī)范應規(guī)定：
①試驗箱內溫度變化速率；
②試驗樣品放入試驗箱的時間；
③試驗樣品在試驗條件下暴露試驗開始的時間；
④試驗樣品通電或加負載的時間。
在這些條件下，相關規(guī)范的制定都可根據(jù)CB/T2424.1-1989導則選定以上4個參數(shù)（以上條件下修訂正在考慮之中）。
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相關資料 |
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