GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備中的定義：試驗箱穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間各測量點在規(guī)定時間內(nèi)實測最高溫度和最低溫度與標(biāo)稱溫度的上下偏差。
GB/T10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件中的定義：穩(wěn)定后，在任意時間間隔內(nèi)，工作空間中心溫度的平均值和工作空間內(nèi)其它點的溫度的平均值之差。
JJF1101-2003 環(huán)境試驗設(shè)備溫度、濕度校準規(guī)范中的定義：環(huán)境試驗設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下，顯示溫度平均值與工作空間中心點實測溫度平均值的差值。
GJB5020-2003 溫度、濕度、振動綜合試驗設(shè)備校準方法：無定義，計算方法與GB/T5170.2相同，但取最大值為溫度偏差。
GB/T2424.5-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度試驗箱性能確認：無定義和計算方法。
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